キーサイト：【11月開催】半導体パラメトリック・アナライザ
オンラインデモ週間のご案内

キーサイトのイベントのご案内です。
本イベントでは、1社様限定のオンライン会議を通じて
半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。
材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、
デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV評価だけでなくCV評価、高速評価、信頼性評価等、
様々な評価が求められるケースが増えてきました。
また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。
半導体評価の経験を積んだキーサイトのエンジニアが、
オンライン会議を通じて半導体測定のトレンドとテクニックをご紹介します。
測定のお悩み相談や、設備更新の検討材料としてご活用ください。

■日　程：2026年11月9日(月)～11月13日(金)
■時間帯：1日につき、3スロット(全15スロット)
　　　　　10:00-12:00、13:00-15:00、15:30-17:30
■会　場：リモート会議にて開催
　　　　　1社様限定の会議形式で行います
■参加費：無料(事前登録制)

■詳細はこちら＞＞
■お申し込みはこちら＞＞
　問14.で“販売店のメールやウェブを見て”を選択し、
　問16.で“日本測器株式会社”とご記入をお願い致します。
■製品情報はこちら＞＞
■お問い合わせはこちら＞＞