キーサイト：【6/22～26】半導体パラメトリック・アナライザ
オンラインデモ週間のご案内

キーサイトのイベントのご案内です。
材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、
デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV評価だけでなくCV評価、高速評価、信頼性評価等、
様々な評価が求められるケースが増えてきました。
また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。
本イベントでは、1社様限定のオンライン会議を通じて
半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。
設備更新の検討材料としてご活用ください。

■日　程 ：2026年6月22日（月）～26日（金）
■時間帯 ：1日につき、3スロット （全15スロット）
　　　　　 10:00-12:00、13:00-15:00、15:30-17:30
■会　場 ：リモート会議にて開催
　　　　　 1社様限定の会議形式で行います
■参加費 ：無料（事前登録制）

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　問14.で“販売店のメールやウェブを見て”を選択し、
　問16.で“日本測器”とご記入をお願い致します。
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